◇光ファイバーファブリペロースキャンニング干渉計
製品名：FFP-SI
Fabry-Perot Scanning Interferometer
Micron Optics社
製品名：FFP-SI
Fabry-Perot Scanning Interferometer
Micron Optics社
MicronOptics社のFFP-SI ファイバーファブリ-ぺロスキャンニング干渉計は
レンズを使用せずにファイバー中に直接に置かれた2面のフラットな面間のシングル
モードファイバー導波路でもった平面のファブリペロー干渉計です。キャビティーは
全体に導波路から構成され、FSRは可能な限り広いレンジに対応し、かつ無調整
又はモード整合が必要です。
波長スキャンニングは積み重ねられたピエゾアクチュエータを用いてキャビティ内の
ファイバーの短い部分を軸方向に引っ張る事で達成されます。100GHz又はそれ
以上のスキャンニング周波数はレーザチャ-プやジッターのような瞬間的な光現象
の直接測定をする事が出来ます。また長い時間を掛けて一定の繰返しスキャン
ニングはレーザドリフトのような僅かに変化する光現象の測定をする事が可能です。
FFP-SIを駆動するに際してFFPコントローラ(FFP-C)が用いられ波長スキャンニング
の駆動波を供給し開ループ或いは閉ループモードの波長選択を行います。
多くのスペクトル測定はMicronOptics社のFFP-SI, FFP-C並びにオッシロスコープ
のみを用いる事で成されます。またFFP-SIは超高フィネス値にFFP-SI又はFFP-TF
とつなげられる事が出来ます。
一般にFFP-SIは光信号の入力偏光状態に敏感です。FFP-SIの偏光特性は
安定しているため，入力光の偏光コントローラは一方向への偏光に同調するか
または偏光解析を行なうのに持ちいられます。
●超高解像レーザ解析
･線幅
･モード構造と安定度
･波チャ-プ
･ジッターとドリフト
●超高解像スペクトル解析
･化学解析
･吸収線と発光線
●レーザモード制御と選択
●可変ファイバーレーザ
●偏光解析
・直接の高解像度測定可能
・ファイバー間の挿入損失は非常に低い
・便利な波長ロッキング
・アライメント不要
・設定面積の最小化
・耐振動性や耐ショック性に優れている
・800nm to 1600nmの適用波長範囲
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光学特性
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仕様値
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動作波長
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800-1640nm
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FSR(FSR固定,範囲内選択可能)
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0.01- 5.5GHz
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3dG バンド幅
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1- 550MHz( 0.08 to 4.4 pm)
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標準Finesse
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10, 40, 100, 150, 200, 650, 1000
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挿入損失
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< 2.5 dB
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入力パワー(最大)
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< 100mW ( for Finesse < 200)
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電気特性
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仕様値
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チューニング電圧/FSR ：最大チューニング電圧
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< 12 V： 70V
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容量： スルーレート
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< 3.0 uF： < 10V/ms
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メカニカル特性
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仕様値
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サイズ( 1GHz<FSR<5.5GHz) ：重さ
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12.7x 14.3x 152.5mm ： 31 g
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サイズ( FSR<1.0GHz) ：重さ
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12.7x 101.6x 101.6mm ： 100 g
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光ファイバーケーブル
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>1m, 900um バッファー チュ-ビング
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コネクタ(オプション)
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FC/SPC, FC/APC, SC/SPC, SC/APC, FC/APC
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環境特性
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仕様値
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動作温度
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-20〜80℃
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FFP-SI-wwww-bbbuffff-ii (例 FFP-SI-1550-040G200-2.5)
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wwww:波長バンド
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bbb:バンド幅
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u:バンド幅単位
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ffff:Finesse
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ii:挿入損失
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中心波長を
ご指定下さい 例えば: 0800=800nm |
バンド幅を
ご指定下さい 例えば: 040=40GHz |
G: GHz
M: MHz K: KHz |
Finesseを
ご指定下さい 例えば: 0200=200 |
挿入損失を
ご指定下さい 例えば: 2.5=2.5dB loss |
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