注目の光学デバイス/Featured Optics-
CASTECH社は超研磨とIBSコーティング技術の両方を習得しており、非常に低い
光損失と高いレーザ誘起損傷閾値を示す可能性があります。
高レーザ ダメージ閾値オプティックス/
High Laser Damage Threshold Optics
Laser Induced Damage Threshold(LIDT)は特に高出力アプリケーション向け
のレーザシステムにとって最も重要なパラメータの1つです。損傷は主に熱効果、
又は電界強度効果として知られている様々なメカニズムによって開始及び駆動
される可能性があります。吸収と欠陥は様々なレーザ条件によって変化故障の
多くのケースに寄与します。
概要
266nmレーザ損傷閾値
テストシステム
繰返し周波数:1-10Hz
パルス幅:5ns
PCIによるバルク及び
表面吸収試験
(355nm, 532nm,1064nm)
計測について
CASTECH社では,5nsのパルス幅で266nm、355nm、532nm、及び1064nmで動作するLIDT測定システムを社内で
構築しました。1対1又はS対1のレジームが利用可能です。(下図参照)
レーザ業界での数十年の知識と経験により、当社は超研磨とIBSコーティング技術の両方を習得しており、非常に低い
光損失と高いレーザ誘起損傷閾値を示す可能性があります。1ppmまでのコーティング基板の弱い吸収は、当社の
光熱共通光路干渉計で検出できました。選択された適切な材料と組合せることで、困難なアプリケーション向けに
卓越した性能を備えたレーザ光学系を提供させて頂きます。
1064nmレーザ損傷閾値
試験システム
(CW,100W)
1064nm,532nm,及び355nm
レーザ損傷閾値試験システム
繰返し周波数:1-10Hz
パルス幅:5ns